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Antlia ALP-T デュアルバンド 3.5nm SII&Hβフィルター/2inch

価格: ¥58,960 (税抜 ¥53,600)
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納期予定:
1~2か月程度

※納期は流動的なため目安となります。

※お支払いは商品のご用意ができた時点(商品発送時)とさせていただきます。

スタッフのおすすめポイント!

Antlia製のSII・Hβのみの輝線を透過させるワンショットナローバンドフィルターです。わずか3.5nmの狭い半値幅によりSIIやOIIIの輝線を発する星雲等をコントラスト高く撮影することができます。SII・Hβのみを透過するフィルターはこのフィルターのみ!(2025年お取り扱い品)他のワンショットナローフィルターと併せて使うことで撮影や画像処理の手法が多彩になります。また、Antlia製のフィルターは高い技術により、高精度な両面多層コーティングが施され、ハローや内部反射を抑制しています。
鏡筒だけでなくフィルターにもこだわりたい!撮影から画像処理までをじっくりと行い、よりよい天体写真の完成をめざしたい!という方にオススメです。
Antlia ALP-T デュアルバンド 3.5nm SII&Hβフィルター/2inch の特徴
ALP-Tデュアルバンド3nm SII&Hβフィルターは、深紅色のSII線(672.4nm)と青色のHβ線(486.1nm)を透過するデュアルナローバンドフィルターで、主にカラーカメラ向けに設計されており、天体写真家が優れたS/N比でディープスカイ画像を撮影するのに役立ちます。
FWHM半値幅は3.5nmで設計され、不要な波長で4.5の光学密度(OD)を実現しているため、光害、月光、大気光を強力に遮断し、SIIおよびOIII輝線信号のみを効果的に通過させることで星雲画像のコントラストを向上させます。
人気のAntlia ALP-TデュアルバンドHa&OIIIフィルターへの重要な追加機能であり、ワンショットカラーカメラを使用して4チャンネルを強調した擬似カラー画像とナローバンド星雲画像の取得を可能にします。
両面研磨された基盤にイオンガンアシスト蒸着による両面多層コーティング技術を採用することで、最も均一で高精度な光害抑制フィルターを実現しています。
ハロー抑制反射防止コーティングにより、ハローと内部反射を最小限に抑えています。また、高いコーティング技術により非常に高い耐久性(キズに強い)を実現しています。
最高の性能を得るには、f/4までの光学系で本フィルターを使用することをお勧めします。(ブルーシフト等の影響を受けます)f/4より明るい光学系では、ハイスピードバージョンを推奨します。
オススメの使い方
カラー・モノクロカメラでのS/N比やコントラスト向上
カラーカメラでSII・OIIIの輝線を発する星雲等を撮影する際に、本フィルターを利用することで、光害や月光などを強力に遮断できるため、撮影画像のコントラストを向上させることができます。モノクロカメラを使用する際もLフィルターとの併用にて高コントラストな画像を得ることができ、より短い時間の撮影で星雲の淡い部分までが強調された画像が期待できます。
別売のデュアルバンドフィルターを組み合わせて使用
Antlia製のデュアルバンドフィルターは以下のラインアップがございます。(現在のお取り扱い品のみ)
  • Antlia ALP-T デュアルバンド 3nm Hα&OIIIフィルター/2inch
  • Antlia ALP-T デュアルバンド 5nm Ha&OIIIフィルター/2inch
  • Antlia ALP-T デュアルバンド 3nm SII&OIIIフィルター/2inch
  • Antlia ALP-T デュアルバンド 3.5nm SII&Hβフィルター/2inch
  • 異なるデュアルバンドフィルターを使用して撮影した画像をコンポジット(重ね合わせる)ことで、輝線星雲の発する主要な波長を強力に強調した画像の撮影が期待できます。
    また、画像処理ソフト等でカラーカメラでの撮影画像をRGBに分解する機能を使用することで、SII,Hα,OIII,Hβ等を分離した画像を得ることで、カラーカメラを使用してのSHO合成画像等を再現することもできます。
    使用に際しての注意事項
    保証
    3年保証(剥離に対して)
    注意事項
  • 太陽の観測と撮影には利用できません。
  • 眼視観測には利用できません。
  • Antliaフィルターを装着した状態で太陽を見ないでください。
  • 警告に従わない場合、深刻な眼の損傷につながる可能性があります。
  • 主な仕様
    FWHM 3.5 nm +0.5/-0.5 nm
    CWL (中心波長) SII: 672.4 nm
    Hβ:486.1 nm
    ピーク透過率 SII: 90%
    Hβ:85%
    ブロッキング 4.5OD (@ 300 ~ 1000 nm)
    フィルター厚 2mm±0.05mm
    基板 光学用基板・単層/非接着基板
    表面品質 S/D (キズ/凹み) = 60/40 (MIL-O-13830参照)
    透過波面 λ/4以上
    光学系 F4以上での使用を推奨
    平行度 30秒角未満
    フィルターリング 2" (M48×0.75)

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